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OpTecBB Mitglied

Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM )

Anschrift

Unter den Eichen 44-46
12203 Berlin 

Kontakt:

Tel.: +49 (30) 81041820
Fax: +49 (30) 81041827
E-Mail:
URL: http://www.bam.de/fg-64.htm

Mitglied seit: 17.07.2002
Gründung: 1871 

  
 
Die BAM betreibt Materialforschung und Materialprüfung mit dem Ziel, die Sicherheit in Technik und Chemie weiterzuentwickeln. Die BAM-Abteilung 6 (Materialschutz und Oberflächentechnik) leistet durch Forschung und langjährige Erfahrung einen fundierten Beitrag zur Funktionssicherheit technischer Produkte und Anlagen, die komplexen mechanischen, chemischen, physikalischen, thermischen und klimatischen Beanspruchungen unterliegen. Optische Methoden und Verfahren werden in den Fachbereichen 6.4, 6.7 und 6.8 eingesetzt.

Arbeitsgebiete

  • Lasermaterialbearbeitung, Lasersicherheit, Laserreinigung (Fachbereich 6.4, Dr. Jörg Krüger, Tel.: -1822)
  • Oberflächenmodifizierung und -messtechnik für optische Anwendungen (Fachbereich 6.7, Dr. Andreas Hertwig, Tel.: -3515)
  • Oberflächen-, Dünnschicht- und Mikrobereichsanalyse mit Röntgenstrahlungsanregung und -detektion (Fachbereich 6.8, Dr. Vasile-Dan Hodoroaba, Tel.: -3144)

Leistungsangebot

  • Lasermaterialbearbeitung im Mikro- und Nanometerbereich, Laserbeständigkeitstest zur Lasersicherheit (DIN EN 207), Bestimmung laserinduzierter Zerstörschwellen (ISO 11254)
  • PVD-CVD Beschichtungstechnik, Ellipsometrie (UV-MIR): Schichtdicke und optische Konstanten, IR-Spektroskopie, Röntgen-Verfahren: XRD, XRF und XRR, Topometrie (AFM, WLIM, FP)
  • Qualitative und quantitative Mikrobereichsanalyse mit EDX am REM (ISO 22309)

Forschungs- und Entwicklungsschwerpunkte

  • Laserinduzierte Oberflächenfunktionalisierung
  • Oberflächenmodifizierung und Oberflächenmesstechnik, chemische Zusammensetzung und Struktur, röntgenographische Mikrostruktur, Defektmechanismen und Schadensanalyse
  • Röntgenspektroskopien wie EDX, WDX und RFA: Von Methodenentwicklung und Metrologie zu Anwendungen im Mikrobereich

Spezielle Ausstattung

  • Femto- und Nanosekundenlasertechnik
  • Mehr-Sonden Techniken: Ellipsometrie, Licht-, Fluoreszenz-, Interferenz-, IR- und Rasterkraft-Mikroskope; XRD/XRR und XRF
  • EDX/WDX-Spektrometer und μRFA am REM, XPS

Aktuelle Spitzentechnologien

  • 30-Femtosekunden Ti:Saphir-Laser
  • Imaging-Ellipsometer, IR-Mikroskop, XRF-Spektrometer, AFM


aktiv im Handlungsfeld

  • Mikrosystemtechnik
  • Optische Analytik
  • Lasertechnik